Jul 07, 2026 ترك رسالة

ثورة في فهم زجاج السيليكون! ليزر عالي الجهد والفيمتو ثانية Rيحدث ثورة في فهم زجاج السيليكون! ليزرات الجهد العالي والفيمتو ثانية تعيد كتابة المنطق الأساسي للتشكيل البصري في ثاني أكسيد السيليكون

01

دليل الأطروحة

يُظهر زجاج الكوارتز تكوينات هيكلية متنوعة في ظل ظروف درجات حرارة وضغط متفاوتة، مصحوبة بتكثيف حجمي دائم، مما يؤثر بشكل كبير على خصائصه البصرية العيانية مثل معامل الانكسار. ومع ذلك، فإن آليات التطور الهيكلي المجهري الأساسية وراء التكثيف الناجم عن ارتفاع درجة الحرارة والضغط العالي (HPHT) والإثارة الكهروضوئية المباشرة بالليزر الفيمتو ثانية (FLDW) لم يتم توضيحها بالكامل بعد. يعد الفهم الأعمق لعمليات إعادة هيكلة الشبكة الزجاجية غير المتوازنة-في ظل الظروف القاسية أمرًا بالغ الأهمية للتصميم المرن وتطوير ألياف جديدة متعددة النواة وعمليات تكامل كمومية وأجهزة هجينة إلكترونية بصرية متقدمة.

 

02

نظرة عامة على النص الكامل

تقارن هذه الدراسة بشكل منهجي تحولات الطور الهيكلي والاستجابات البصرية الناتجة عن المعالجة بدرجات الحرارة المرتفعة والضغط العالي- (HPHT)، والكتابة المباشرة بالليزر الفيمتو ثانية (FLDW)، وعملياتها المجمعة في زجاج الكوارتز. تكشف النتائج أنه على الرغم من أن كلتا الطريقتين تحققان زيادات خطية في معامل الانكسار والتكثيف العياني، إلا أنهما تختلفان بشكل أساسي في مسارات إعادة الهيكلة المجهرية. يكمن التمييز الأكثر أهمية في حقيقة أن الهيكل الزجاجي في المنطقة المشععة بالليزر - يتطور إلى حالة درجة حرارة افتراضية عالية مميزة (1600–2000 كلفن) في ظل تأثيرات حرارية ضوئية شديدة، مصحوبة بتوليد عيوب الأكسجين غير - (NBO) المرتبطة ارتباطًا وثيقًا برباعي الأسطح SiO4 الذي يتقاسم الحافة. يؤدي هذا إلى سلوك التألق الضوئي (PL) الذي يختلف بشكل واضح عن السلوك الذي يتم تحقيقه عن طريق العلاج الطبيعي البسيط عالي الضغط.

 

03

تحليل النص والصور

يوضح الشكل 1 توصيف تحمل الضغط العالي - من ليزر الفيمتو ثانية المصنوع من زجاج السيليكا - من النوع الثاني، بما في ذلك الصور المجهرية الضوئية للإرسال (A-F، M-P) والصور المجهرية للاستقطاب (G-L، Q-T). تم إعداد الزجاج الأصلي، ومجموعة التحكم الملدنة فقط، وأربعة مستويات من درجة حرارة عالية 673 كلفن وتدرجات ضغط عالية تبلغ 1.4 و2.5 و3.7 و4.9 جيجا باسكال، وتمت مقارنة العمليات في مجموعتين: "الليزر أولاً، الضغط العالي" و"الضغط العالي أولاً، الليزر". تم تثبيت طاقة نبض الليزر عند 0.8 μ J. وتمثل الإشارة الملونة لصورة الاستقطاب شدة انكسار الشكل للنانوغراتينغ. أظهرت النتائج أن التلدين البسيط بدرجة 673 كلفن لا يؤدي إلى إتلاف الشبكة، ويمكن الاحتفاظ ببنية الشبكة النانوية وانكسارها المزدوج بشكل ثابت عندما يكون الضغط أقل من أو يساوي 2.5 جيجا باسكال. بعد الوصول إلى 3.7 جيجا باسكال، يتم تقليل الانكسار المزدوج بشكل كبير، وعند 4.9 جيجا باسكال، يتم تقليل الانكسار المزدوج بشكل ملحوظ. يشير الاختفاء الكامل للانكسار المزدوج إلى أنه أعلى من 3.7 جيجا باسكال. ستؤدي درجة الحرارة المرتفعة والضغط العالي إلى انهيار المسام النانوية داخل الشبكة، وتدمير هيكل تعديل الكثافة الدورية، ويمكن عكس تغيير تأخير الطور للشبكة تحت كلا تسلسلي المعالجة، مما يؤكد أن شبكة النانو لها خاصية إعادة البناء القابلة للمسح ذات الضغط العالي.

news-707-363

ويبين الشكل 2 أطياف التلألؤ الضوئي المجهري متحد البؤر من زجاج السيليكا الذي تم الحصول عليه باستخدام نوعين من ضوء الإثارة، 325 نانومتر و532 نانومتر، على التوالي. وتمت مقارنة الاختلافات في عيب التلألؤ بين خمس مجموعات من العينات: الزجاج الأصلي، والكتابة المباشرة بالليزر الفيمتو ثانية فقط (FLDW)، وارتفاع درجة الحرارة والضغط العالي فقط (HPHT)، والضغط العالي قبل الليزر، والليزر قبل الضغط العالي؛ أظهرت عينات FLDW المعالجة ذروة انبعاث خضراء تبلغ 530 نانومتر وقمة انبعاث حمراء تبلغ 650 نانومتر. نشأ الضوء الأخضر من الإكسيتونات المحاصرة ذاتيًا، في حين أن الضوء الأحمر يتوافق مع عيوب الأكسجين غير الجسرية المعزولة. ومع ذلك، فإن جميع العينات التي تمت معالجتها باستخدام HPHT لم تتمكن إلا من ملاحظة اللمعان الأخضر والاختفاء التام لذروة الضوء الأحمر، مما يشير إلى وجود فرق أساسي بين أنواع العيوب الناجمة عن ليزر الفيمتو ثانية وتعديل الضغط العالي -. تعمل المعالجة بالضغط العالي على تعزيز التفاعل بين شبكات الأكسجين غير الموصلة والشبكات الزجاجية، مما يؤدي إلى إزالة إشارة الضوء الأحمر المقابلة للأكسجين غير الموصل المعزول.

news-1269-880

 

يستخدم الشكل 3 مطيافية رامان متحد البؤر لتحليل بنية الشبكة الدقيقة لدرجات الحرارة المرتفعة والضغط العالي (HPHT)، والكتابة المباشرة بالليزر الفيمتو ثانية (FLDW)، وزجاج السيليكا المعدل بالعملية المركبة. ويبين الشكل (أ) أطياف رامان الكاملة لأربع مجموعات من العينات: الزجاج الأصلي، والليزر فقط، والضغط العالي 4.9 GPa، والضغط العالي 4.9 GPa بعد الليزر. الذروة الرئيسية لاهتزاز انحناء الحلقة السداسية Si-O-Si عند 440 سم ⁻¹ هي كائن التحليل الأساسي؛ يوضح الشكل B منحنى التباين لموضع الذروة الرئيسي لرامان لعينة HPHT مع الضغط. تتحول الذروة الرئيسية نحو أعداد موجات أعلى وتضيق في عرض النطاق الترددي مع زيادة الضغط، مما يتوافق مع انخفاض في زاوية رابطة Si-O-Si وتوزيع زاوية رابطة أكثر اتساقًا. تتم معايرة المحور الرأسي الأيمن بشكل متزامن مع درجة الحرارة الافتراضية المقابلة؛ يقارن الشكل C تحول الذروة الرئيسي ودرجة الحرارة الافتراضية المكافئة للزجاج الأصلي، 3.7 GPa و4.9 GPa بعد تشعيع الليزر في طاقات مختلفة. يؤدي تشعيع الليزر إلى تقارب جميع هياكل العينات بشكل غير مقارب إلى درجة حرارة افتراضية موحدة تبلغ 1600-2000 كلفن. ويتحول ذروة التحول الرئيسي للزجاج المنخفض المضغوط مسبقًا إلى طاقة الليزر، في حين أن الذروة الرئيسية البالغة 4.9 جيجا باسكال عالية- من الزجاج تتحول نحو أعداد موجات أقل، مما يكشف أن الليزر يمكنه الاسترخاء وتنظيم شبكة زجاج التكثيف عالي الضغط. يعكس هذا بشكل حدسي قوانين التنظيم التفاضلي لمسارات تعديل HPHT وFLDW على زاوية رابطة الأكسجين السيليكوني ودرجة الحرارة الافتراضية المكافئة.

 

04

ملخص

تكشف هذه المقالة بشكل منهجي عن أوجه التشابه والاختلاف بين-الضغط الفيزيائي عالي الضغط والكتابة المباشرة بالليزر الفيمتو ثانية في زجاج الكوارتز المكثف. على الرغم من أن كلاهما يمكن أن يحقق تكثيفًا دائمًا وتحسين معامل الانكسار، على المستوى المجهري، فإن الليزر فائق السرعة الناجم عن الإثارة الكهرومغناطيسية يدفع بشكل فريد الشبكة الزجاجية للتطور نحو حالة درجة حرارة افتراضية عالية، ويحفز محليًا عيوب بلورية مجهرية فريدة من نوعها مثل كسر الروابط، NBO، ورباعي الأسطح المشترك، والتي تكون مفقودة في معالجة الضغط العالي - التي تعتمد على تشوه وضع العنصر الصلب (RUM). لا يوضح هذا الاكتشاف حدود التشوه الطوبولوجي في الشبكات غير المتبلورة في ظل طرق مختلفة لحقن الطاقة فحسب، بل يوفر أيضًا أساسًا نظريًا متينًا لتصميم أجهزة ضوئية جديدة ومكونات اتصالات بصرية من خلال تخصيص البنية المحلية في المستقبل.

 

 

إرسال التحقيق

whatsapp

الهاتف

البريد الإلكتروني

التحقيق